Abstrakt
	V článku je uvedený prehľad analytických postupov, ktoré boli použité pri výskume extrémne tenkých vrstiev SnO2 a výsledky, vedúce k záveru o subatomárnom usporiadaní. Výsledok je ojedinelý a bola tiež započatá právna ochrana na podstatu technológie prípravy vrstiev. Samotný postup veľkoplošnej aplikácie bol ďalej úspešne riešený v rámci grantovej úlohy Ministerstva školstva SR. Veľkoplošné vzorky boli dodané na meranie do Španielskeho strediska výskumu Kráľovského Ministerstva vedy a technológie Plataforma Solar de Almeria (PSA). Pri vyšetrovaní boli použité difraktogramy tenkých vrstiev i vrstiev hrubších. Výsledky sú porovnávané s meraním odporu štvorca vrstvy R [?/]. Štruktúru vrstiev je možné dať do súvisu s nameranými údajmi, až na základe merania vývoja vlastností vrstiev v čase, ktoré boli sledované v rozpätí cca 190 dní za rôznych podmienok. Úvahy sú podporené meraniami svetelnej aktivity vrstiev excitáciou pomocou lasera, ktoré sú univerzálnou indikáciou subatomarity vrstvy dvojmocného oxidu cínu. Závery meraní postačujú ako argument pre použitie priamych metód vyšetrovania štruktúr - štruktúr supertenkých a subatomárnych vrstiev.
	EDX mikroanalýza potvrdila, že ide o extrémne tenké vrstvy s parametrami mimo vyhodnotiteľného rozsahu pre túto metódu. RTG difrakčné analýzy s dvoma extrémami pri hodnotách 0,141 nm a 0,28 nm prislúchajú vzorkám, pre ktoré prepočet hrúbky z hodnoty odporu štvorca R [?/] a merného odporu pre SnO2, dáva práve druhú difrakčnú konštantu pri predpoklade lineárnych závislostí. Jednopíkový difrakčný záznam pri 0,141 nm nebol pozorovaný, aj keď prítomnosť vrstvy meraním R je evidentná. Časový priebeh zmeny R, resp. jeho stabilita, je klasifikovateľná na základe hodnoty R, ktorú mali vzorky pri svojom vzniku. Stabilná oblasť prislúcha vzorkám s R prislúchajúcom prepočítanej hrúbke 0,141 nm. Polostabilné chovanie, prípadne rýchlejšiu expiráciu, možno pozorovať pri hodnotách R nad uvedenou kritickou hranicou. Nad touto hranicou vykazujú vrstvy excitovateľnosť laserom s merným výkonom v rozsahu 1 - 2 kW/m2. To dokazuje prítomnosť subatomárnej štruktúry (subnanoštruktúry) redšej, s časťami rozkmitateľnými koherentným svetlom (? = 650 nm) s uvedeným merným výkonom. Takto je zrejme možné indikovať prítomnosť subatomárnych oxidov aj s vlastnosťami izolantov, ktoré sú navrhnutou  veľkoplošnou nevákuovou technológiou tiež pripraviteľné. Pre dokonale transparentný, subatomárne usporiadaný SnO2, boli zaznamenané konvergentné a divergentné excitácie pre reflexiu i refrakciu cez sklennú podložku. Ako výstup z výskumu je možné, okrem nelineárnych optických javov, očakávať aj analýzu priestorového usporiadania vrstiev a porovnanie s modelom pre tieto subatomárne štruktúry. Tieto výsledky budú v dohľadnej dobe publikované v časopise Acta Metallurgica Slovaca.