Abstrakt
	Práca sa zaoberá analýzou povrchových defektov obalových plechov a metódami ich detekcie.   Pre jednotlivé   technologické uzly vo výrobnom procese plochých valcovaných polotovarov, v tomto prípade obalových plechov, boli popísané rôzne charakteristické druhy defektov. Tvorbe väčšiny týchto defektov v technologickom výrobnom procese je možné sa vyhnúť dodržaním technologických podmienok. Dôležité je obmedziť najmä tvorbu tzv. zaklinených oxidov v narážacích peciach, voľbou vhodnej teploty ohrevu, doby ohrevu a aj obsahu kyslíka v spalinách. Pri nesprávnych parametroch ohrevu  brám  a vzniku hrubých vrstiev okovín rôznych typov kysličníkov, ktoré prenikli po hraniciach pôvodných zŕn do povrchových vrstiev bramy, tieto môžu byť veľmi kompaktné a priľnavé a mimoriadne ťažko odstrániteľné. Povrchové oxidické vrstvy môžu byť tiež doprevádzané malými globulitickými časticami internej oxidácie, ktoré sa tvoria v podpovrchovej vrstve vo vnútri zŕn materiálu pri vyšších teplotách, literatúra uvádza teploty nad 1100 °C.   Neostreknuté okoviny s vysokým stupňom kohézie, ktoré vznikli v narážacích peciach a sú zakotvené v trhlinách, povrchových defektoch a na hraniciach primárnych zŕn sú v ďalšom procese výrobného toku zavalcované do povrchu materiálu. Pri valcovaní za studena a neustálej redukcii hrúbky plechu sa zavalcované oxidy približujú k povrchu, a po dosiahnutí kritických hrúbok dochádza k prieniku oxidov na povrch plechu.
	V experimentálnej časti sú uvedené sledovania optickou svetelnou mikroskopiou pomocou softwarového produktu „Olympus DP-SOFT“ a sledovania SEM a EDX analýzy pomocou mikroanalyzátora EDAX so softwarovým produktom „EDAX GENESIS software“. V práci je sledovaný výskyt podpovrchových oxidov a kritická hrúbka plechu, pri ktorej dochádza k prieniku oxidov na povrch sledovaného obalového plechu. V záveroch sú uvedené návrhy na obmedzenie tvorby týchto oxidov.