Abstrakt
	Príspevok sa zaoberá vplyvom stupňa deformácie a teploty na anizotrópiu a zvyškové napätia IF oceli. Z dôvodu spresnenia mikroštruktúrnych parametrov boli použité dva modely: izotropný a anizotropný. Hodnoty parametrov vplývajúcich na anizotrópiu a zvyškovích napätí boli namerané na röntgenovom difrakčnom prístroji a následne spracované v programe MAUD (Materials Analysis Using Diffraction), ktorý umožňuje výpočet mikrodeformácie z profilu difrakčných čiar Rietveldovou metódou. Z profilu difrakčných čiar v programe MAUD boli vypočítané mriežkové parametre a0 [nm], veľkosti kryštalitov DL [nm] a distorzie mriežky ?z [-]. Mriežkový parameter a0 [nm] pri oboch modeloch má s rastúcou deformáciou narastať z hodnoty 0.286643 nm do 0.286736 nm . Hodnoty veľkosti kryštalitov  DL [nm] pre oba modely klesajú v rozmedzí od 220 nm do 53 nm. Distorzia mriežky ?z [-] sa s rastúcou deformáciou výrazne nemení. Zvyškové napätia po hrúbke vzorky z IF ocelí s 90% deformáciou boli merané na röntgenovom difrakčnom prístroji metódou sin2? ako vzorový príklad.  Meranie bolo realizované  na oboch stranách vzorky po obojstrannom odleptávaní , ktoré bolo nevyhnutné k zmapovaniu zvyškových napätí po hrúbke vzorky v smere valcovania, smere priečnom a    smere 45°. Z nameraných výsledkov vyplýva symetrické rozloženie zvyškových napätí v priečnom smere a nesymetrické rozloženie zvyškových napätí v smere valcovania, kde maximálna hodnota sa nenachádza v strede hrúbky skúmanej vzorky. Koeficient normálovej anizotrópie pre vybrané vzorky z IF ocelí bol vypočítaný softvérom popLA modelom „pencil“ , ktorý je pre daný typ textúry najvhodnejší a v praxi sa používa na stanovenie koeficientu normálovej anizotrópie tenkých plechov, ktorý sa dá len obtiažne určiť mechanickým spôsobom. So stupňom deformácie narastá absolútna hodnota r až na cca 1.6 ale súčasne sa zväčšuje rozdiel v smere valcovania.